霍克光谱共焦测量具有高速度，高精度，高适应性等明显优势。
已被广泛应用于表面微观形状、厚度测量、位移测量、在线监控及过程控制等工业测量领域。
我公司开发的光谱共焦测量仪。
在膜厚测量、超薄玻璃厚度测量、油墨/银浆厚度测量、三维轮廓测量、多层厚度测量等领域得到了成功的推广与应用。

采用光谱共焦测量法，利用波长信息新技术进行精密测量。
产品具有超高精度，±1μm 的高测量精度，重复精度<1 μm。
产品具有超高稳定性，透明、镜面、高光金属均可进行测量；
能高精度稳定测量透明体厚度和平整度，并可同时测量不同层面的位置值。