测量传感器：激光位移传感器；测量原理：三角几何法。
系统测量原理：反射式测量，双探头对射，上下同轴相对安装，通过测量材料上下表面到激光头的位移距离，来测量材料的几何厚度。
应用特点：测量几何位移距离，与材料成分特性无关，受表面几何特性影响。激光测厚仪操作简单，不需要对产品进行标定。只需通过 标准厚度片进行定期校准补偿即可。典型应用：锂电池极片辊压厚度测量，极片涂布边缘或头尾削薄区尺寸测量。
测量传感器：激光位移传感器；测量原理：三角几何法。
系统测量原理：反射式测量，双探头对射，上下同轴相对安装，通过测量材料上下表面到激光头的位移距离，来测量材料的几何厚度。
应用特点：测量几何位移距离，与材料成分特性无关，受表面几何特性影响。激光测厚仪操作简单，不需要对产品进行标定。只需通过 标准厚度片进行定期校准补偿即可。
